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    • 福特科新引進美國ZYGO GPI XP/D4 干涉儀

    2009-08-28

     我司購買的美國Zygo GPI XP/D4 干涉儀，現已安裝調配成功并投入使用。公司引進GPI XP/D激光干涉儀主要為公司產品提供高精度的平面面形、球面面形、曲率半徑、樣品表面質量、傳輸波前的測量和分析。

     
    Zygo GPI XP/D4 干涉儀的投入使用，將有效提高福特科光學產品的檢測精確度，確保產品質量，從而為福特科對客戶的質量保證承諾提供有利保障。

     

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